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高加速温湿度及偏压测试解决方案(HAST测试)

发布日期2022-09-21 16:36
信息摘要:
b-HAST测试方案 b-HAST方案是由HAST箱配合绝缘电阻测试系统(离子迁移测试系统)完成,是指被测样品在HAST加速老化试验箱内做在线绝缘阻值监测,以判定在高温高湿高压环境下,被测物...
高加速温湿度及偏压测试解决方案(b-HAST测试)

目的:评估产品在偏压下高温、高湿、高气压条件下对湿度的抵抗能力,加速其失效过程。
测试条件:130度,85%RH,偏压
失效机制:电离腐蚀,封闭密封性

  b-HAST方案是由HAST箱配合绝缘电阻测试系统(离子迁移测试系统)完成,是指被测样品在HAST加速老化试验箱内做在线绝缘阻值监测,以判定在高温高湿高压环境下,被测物是否发生离子迁移/CAF现象,从而观察被测物的可靠性是否达到标准。
 HAST加速老化试验箱最多可支持180PIN、最多可支持175CH,当采用正负极独立通道的测试方法时,最多支持90CH;当采用共极测试方法时。通过HAST箱上固定的CAF测试专用转接端子,达到使绝缘电阻测试系统与HAST箱内被测样品直接相连的目的。


总PING数 180PING
航插数 1-5个,36PING/个
通道数 正负极独立测试:18-90CH
共极测试:32-175CH
转接端子参数 绝缘阻值>13次方


绝缘电阻测试系统(离子迁移测试系统)现有300V、500V、1000V三种测试电压和32CH、64CH、96CH、128CH、256CH常规通道数的绝缘电阻测试系统与HAST搭配,可满足绝大部分的测试要求。



测试电压 300/500/1000V
通道数 32/64/96/128/256CH
电阻测量范围 1*106—1*1013Ω
电阻测量精度 1*106—1*1010Ω≤±5.0%(测试电压5V)
1*1010—1*1011Ω≤±10.0%(测试电压5V)
1*1011—1*1012Ω≤±15.0%(测试电压50V)
1*1012—1*1013Ω≤±30.0%(测试电压100V)
实时电流监测范围 0.1μA—500μA
实时电流检测速度 10次/秒


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